XPS檢測認證

x射線光電子能譜分析(xps測試)
x射線光電子能譜是分析物質表面化學性質的一項技術。x射線檢測技術(radioaraphicesting，即rt)是利用射線(x射線
射線中子射線等)穿過物體時的吸收和散射的特性，檢測其內部結構不連續性的技術。xps可測量材料中元表組成，經驗公
式元素化學態和電子態。用一束x射線激發固體表面，同時測量被分析材料表面1-10nm內發射出電子的動能，而得到xps
譜。光電子譜記錄超過一定動能的電子。光電子譜中出現的譜峰為原子中一定特征能量電子的發射，光電子譜峰的能量和強度可用于定性和定量分析所有表面元毒(氣元毒除外)。
x射線光電子能譜分析(xps測試)被廣泛應用范圍
無機材料和有機材料中，如合金、半導體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水、金屬、合金、半導體、有機物、無機物、薄膜、納米材料等
xps主要能夠分析以下方面的內容:
1.元素的定性分析。可以根據能譜圖中出現的特征譜線的位置鑒定除h，he以外的所有元素。
2.元素的定量分析。根據能譜圖中光電子譜線強度(光電子峰的面積)反應原子的含量或相對濃度。
3.固體表面分析。包括表面的化學組成或元素組成，原子價態，表面能態分布，測定表面電子的電子云分布和能級結構等。
4.化合物的結構。可以對內層電子結合能的化學位移**測量，提供化學鍵和電荷分布方面的信息。
5分子生物學中的應用。如利用xps鑒定維生素b12中的少量的co。
6.樣品內部結構三維可視化
7.內部結構尺寸測量
8.不同組分結構二維/一維表征及形態學分析
9.內部缺陷/孔隙/梨紋表征及形態學統計，分析
10.纖維類樣品三維空間取向統計、分析
11.材料內部滲流模擬與分析計算
12.多孔材料壁厚分析
13顆粒之間夾雜物以及表面包事物體積計算
14.材料內部成分均勻性計算