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在理想情況下，軸上點和軸外點的光束都受孔徑光闌的限制，有基本相同的光束孔徑角，如果視場不太大，整個視場的像面照度基本均勻。物點的成像光束是一個以物點為頂點，以入射光瞳為底的空間光錐。此光束經過光學系統以后，上海光學檢測設備，其結構會發生變化，對于軸對稱光學系統（絕大多數系統屬這一類），軸上點光束總具有對稱性質，但軸外點光束經系統后失去對稱。已知兩對共軛面位置及放大率，或已知一對共軛面位置及放大率，加上光軸上的兩對共軛點，可以確定理想光學系統的成像。
滿足一系列要求的實際光學系統往往不是幾個透鏡的簡單組合，五金件光學檢測設備，而由一系列透鏡、曲面反射鏡、平面鏡、反射棱鏡和分劃板等多種光學零件組成，并且要通過合理設置光闌、精細校正像差和恰當確定光學零件的橫向尺寸等手段才能得到合乎需要的高質量系統。任何垂直于光軸的平面，led光學檢測設備，其共軛面仍與光軸垂直。對垂直于光軸的一對共軛平面，橫向放大率為常量。研究理想光學系統上述物像兩方一一對應關系的理論稱為高斯光學。由于光學系統的軸對稱性，軸上點光束無需區分子午光束與弧矢光束，軸外點光束則一定是對子午平面對稱的。
由于光學系統的軸對稱性，軸上點光束無需區分子午光束與弧矢光束，軸外點光束則一定是對子午平面對稱的。主光線就是子午平面與弧矢平面的交線。由于主光線要經系統各個表面的折射、反射而改變其方向，aoi光學檢測設備廠，所以，弧矢平面也逐面發生變化而不是一個統一的平面。高斯光學中把具體的光學系統抽象概括成由基點和基面組成的系統，物距、像距及焦距均以兩個主點為基準計算。物點q和物方焦點f至物方主點h的距離s和f分別為物距和物方焦距；像方主點h至像點q和像方焦點f的距離分別為像距s和像方焦距f。
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