半導體特性曲線分析儀

選擇普賽斯儀表的理由：
1、國產自主研發
技術雄厚，多項磚利，自主可控
2、可定制化方案
聚焦鮮進器件，提供成熟可落地定制化方案
3、對標進口
國貨精品，品質保障，對標進口產品
半導體特性曲線分析儀s系列源表認準普賽斯儀表，國產自主研發，*，測試范圍更廣，輸出電壓高達300v，支持usb存儲，一鍵導出報告，符合大環境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統解決方案，及時指導客戶編程，加速測試系統開發，詳情請聯系普賽斯儀表銷售專員為您解答一八一四零六六三四七六
產品簡介
s系列源表是普賽斯歷時多年打造的大動態范圍、數字觸摸的國產化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能輸出電壓達300v測試電流達100pa，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體ic或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。
產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如liv、piv
源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位
四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pa~1a，電壓0.3mv~300v
豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描
支持usb存儲，一鍵導出測試報告
支持多種通訊方式，rs-232、gpib及以太網
技術參數
z大輸出功率：30w，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：&plu*n;30v（≤1a量程），&plu*n;300v（≤100ma量程）；
電流源：&plu*n;1.05a（≤30v量程），&plu*n;105ma（≤300v量程）；
過量程： 105%量程，源和測量；
穩定負載電容：<22nf；
寬帶噪聲(20mhz)：2mv rms（典型值），<20mv vp-p（典型值）；
線纜保護電壓：輸出阻1kω，輸出電壓偏移<80uv；
z大采樣速率：1000 s/s；
觸發：支持io觸發輸入及輸出，觸發性可配置；
輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；
通信口：rs-232、gpib、以太網；
電源：ac 100~240v 50/60hz；
工作環境：25&plu*n;10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長；
s系列源表應用
•分立半導體器件特性測試，電阻、二管、發光二管、齊納二管、pin二管、bjt三管、mosfet、sic、gan等器件；
•能量與效率特性測試，led/amoled、太陽能電池、電池、dc-dc轉換器等
•傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等
•有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等
•納米材料特性測試，石墨烯、納米線等
•有關半導體特性曲線分析儀的更多信息請咨詢生產廠家普賽斯儀表專員一八一四零六六三四七六
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