掃描近場光學顯微鏡,SNOM顯微鏡采用掃描探針

這款掃描近場光學顯微鏡snom融合了的掃描探針技術和光學顯微鏡技術，它把微型光學探針非常接近材料樣品表面，實現(xiàn)近場成像，獲得光學信息后提供的圖像分辨率可達100nm以下,在snom顯微鏡品牌中擁有高性價比snom顯微鏡價格。
(上述價格不準確，請您聯(lián)系我們獲得準確報價）
掃描近場光學顯微鏡scanning near field optical microscope可獲得阿貝衍射極限的分辨率，采用掃描探針顯微鏡壓電式掃描技術和微型光學探針，可獲得亞波長分辨率的光學圖像。
掃描近場光學顯微鏡snom特色
集成雙光學視圖系統(tǒng)用于定位和遠場光學研究
兼容寬視場光學顯微鏡模式
獨立或同時的透射和反射測量模式
超大工作波長范圍
允許光源倒置或吊射
獨立的光電探測器用于多重光信號收集
就有可擴展性
兼容第三方科學研究儀器
掃描近場光學顯微鏡snom應用
納米科技
材料科學
生命科學
生物學
高分子研究
半導體研究
以衍射極限的分辨率獲取樣品光學圖像