舟山測厚儀-江蘇一六儀器有限公司

江蘇一六儀器 x射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍：氯（ci）- 鈾（u）
厚度分析范圍：各種元素及有機物
x射線熒光鍍層測厚儀（國產）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過x熒光照射出產品，每個元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度，完全達到無損、快速分析的效果，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、電鍍企業（鋁平行管、電鍍五金），測厚儀，連接器企業、開關企業等。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加*
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏*傳感器保護
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- 鈾(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 x射線熒光測厚儀工作原理
當原子受到x射線光子(原級x射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時出次級x射線光子，此即x射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，x射線熒光的波長對不同元素是特征的，根據元素x射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。
根據色散方式不同，x射線熒光分析儀相應分為x射線熒光光譜儀(波長色散)和x射線熒光能譜儀(能量色散)。x射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級x射線。它由高壓發生器和x光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的x射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的x射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將x射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯機處理而得到被測元素的含量。
一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，*efp算法 x射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車電子領域.efp算法結合*定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- 鈾(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項
1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。
2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（ups）。
3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。
4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環境溫度和濕度應保持恒定。
5．儀器曝曬在陽光下時溫度*易超過50℃。所以請不要在這樣的環境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。
6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。
7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環境和場合。
8．不要弄臟和刮擦元素片或調校標準片，否則會造成讀數錯誤。
9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
舟山測厚儀-江蘇一六儀器有限公司由江蘇一六儀器有限公司提供。江蘇一六儀器有限公司為客戶提供“測厚儀,標準片”等業務，公司擁有“江蘇一六儀器”等品牌，專注于儀器儀表等行業。，在江蘇省昆山市玉山鎮成功路168號的名聲不錯。歡迎來電垂詢，聯系人：鄧女士。