TESCAN RISE 拉曼掃描電鏡

tescanrise拉曼掃描電鏡
tescanrise電鏡拉曼一體化顯微鏡
sem-raman(risemicroscopy)
將拉曼成像和掃描電鏡全面地結合在一起用于樣品的綜合分析是一種新穎的聯用電鏡技術。通過拉曼分析和掃描電鏡的聯用，材料表面細微的結構特征可與化合物的分子信息相結合。
拉曼光譜和掃描電鏡成像的結合使得掃描電鏡的分析性能得到擴展。拉曼成像是用于獲得樣品化學成分和分子空間分布的一種廣為人知的光譜技術。它還可以用來獲取2d和3d圖像，以及深度方向的輪廓，來分析材料內部混合物的分布。拉曼光譜不僅適用于相鑒別，還能夠用來研究材料的價態。有些拉曼位移是由作用在材料上的應力而產生，由此可以觀察和測量該應力強度。通過拉曼譜峰的寬度，還可以評估固體材料的結晶度。通過拉曼譜峰的強度，人們還可以獲得一些更深層的信息。拉曼譜峰的強度和材料的總量相關，還和層狀材料特定層的厚度相關。因此，這種技術還可以用以區分單層、雙層或多層的石墨區域。
集成化的軟件界面，為用戶提供友好的測量操作體驗
測量結果關聯性強，圖像可疊加
保證掃描電鏡和拉曼成像原有的性能不受到影響
拉曼顯微鏡用于分析混合物的組成和材料性質（應力、取向、結晶度）
拉曼光譜是eds的補充分析手段
應用領域
rise電鏡-拉曼一體化系統在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫學、生命醫藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。
rise電鏡-拉曼一體化系統特別適合于有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域的分析應用。目前，rise顯微鏡在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫學、生命醫藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。
碳材料
有機材料
二維材料
無機材料
共聚焦分析